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Talos F200X G2 TEM

發布:帝帕特時(shí)間:2022/3/8 18:56:58

Talos F200X G2 TEM

适用于高分辨率 TEM 和 STEM 表征以及準确化學定量的 TEM多遠 顯微鏡。

 

Thermo Scientific Ta科我los F200X (S)TEM 是一款(掃描)透射藍體電子(zǐ)顯微鏡,其将出色的高分辨率 S可嗎TEM 和 TEM 成像與業界領先的能量色散 X 射知跳線光譜 (EDS) 信号檢測相結合。采用構合映射的 2D/3D 化學表征由 資電4 個内置 SDD Super-X 探頭執行。Talos 開能F200X (S)TEM 在所有維度下均可實現最快工工速精确的 EDS 分析,以及在進行動态顯微鏡習你檢查時(shí)實現導航快速的高分辨率 TEM 和 STEM(HRTE請信M 和 HRSTEM)成像。Talos F200X (S)T在樹EM 還具有較低(dī)的環境敏感度;儀器(qì)外殼討科可調節 TEM 室中空氣壓力波、氣流和細微溫度變化的影響家身。


(S)TEM 成像和化學分析的高分辨率和高通(tō老輛ng)量

Talos F200X (S)TEM 可在多維度下對納米材料進行快速、精确西跳的定量表征。由于具有旨在提高通(tōng)量、精度日爸和易用性的創新功能,Talos F200X (S)TEM 是答短院校(xiào)、政府、半導體以及工(gōng)業環境高級研究和分析時飛的理想選擇。


最近對在高分辨率下進行大(dà)面積相關性成像的需求有所增車山加,因為(wèi)這使研究人員在獲得(de)統計學上穩定的數據的同時(了學shí)也能保留其觀測結果的背景。Thermo Scientific Maps 軟件(由 Th嗎小ermo Scientific Velox 軟件啟用)自動采集樣品的一系列圖海家像,并将它們(men)拼接在一起以形成一幅大(dà)尺寸最終是男圖像。圖像采集甚至可以在無人值守的情況下執行。


Thermo Scientific Avizo 軟的花件讓研究人員可以通(tōng)過自動話工(gōng)作流程進行即時(s店答hí)處理來執行圖像分析,以及生成納米顆粒大(dà)小(xiǎo)、表面積、校事周長(cháng)、分布和化學成分等統計數據。來自不(b靜快ù)同顯微鏡的圖像和化學信息可以關聯起來以保留相科資關背景。


Align Genie 自動化軟件減輕了新手操作員的學習負擔,緩解車河了多用戶環境中的緊張氣氛,并為(wèi)經驗豐富的操作員縮短(duǎn)了數據得湖獲得(de)周期。


主要特點

直觀的軟件

Thermo Scientific V身們elox 軟件可實現對多模式數據的快速、輕松的采集和分析。


更短(duǎn)的化學成分獲得(de)周期

快速、精确的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納森南米級細節,同時(shí)保持高潔淨度。


更好(hǎo)的圖像數據

高通(tōng)量 STEM 成像采用同步多信号檢測,可為(你冷wèi)高質量圖像提供更高的對比度。


Maps 軟件

Thermo Scientific Maps 軟件可通(船討tōng)過即時(shí)處理以高分辨率進行自動化大(dà)面積圖像和分析數據采集。玩車


更多空間

為(wèi)動态實驗添加特定用途的原位樣品杆。


高質量 (S)TEM 圖像和準确的 EDS

通(tōng)過創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質量的 TEM 或 STEM通討 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校(xiào得路)正功能可實現極準确的定量。  


高度可重複的數據采集

所有日常 TEM 調整、例如(rú)聚焦、共心高度、電子(zǐ)束移些些位、冷凝器(qì)光闌、電子(zǐ)束傾斜樞軸點媽少和旋轉中心都是自動進行的,确保您始終從最佳成像條件開(kāi)始樹話工(gōng)作。實驗可以能夠再現的方式重複進行,從而使您能她南夠專注于研究而非儀器(qì)操作。

 

提高了生産率

超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡,可進行快速模那我式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。

性能數據

 

應用

 

采用電子(zǐ)顯微鏡進行過程控制

現代工(gōng)業需求高通(tōng)放飛量、質量卓越、通(tōng)過穩健的工(gō也錯ng)藝控制維持平衡。SEM 和 TEM 工(gōng)具結合專用的自動化軟件、為(w喝資èi)過程監控和改進提供了快速、多尺度的信息。

 

質量控制和故障分析

質量控制和保證對于現代工(gōng)業至關重要。我們得水(men)提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM 和光譜工(gōng)具、使您可以為(wèi)過程控制和改進做出可靠、明爸藍智的決策。

 

基礎材料研究

越來越小(xiǎo)的規模研究新型材料、以最大(dà)限度地控制其物如票理和化學特性。電子(zǐ)顯微鏡為(wèi請多)研究人員提供了對微米到納米級各種材料特性的的土重要見解。

 

 

半導體探索和開(kāi)發
先進的電子(zǐ)顯微鏡、聚焦離子(zǐ)束和相關分析技術可用于識别制線輛造高性能半導體器(qì)件的可行解決方案和設計方法。

 

良率提升和計量

我們(men)為(wèi)缺陷分析、計量學和工(gōng)藝控制提供先進的船服分析功能、旨在幫助提高生産率并改善一系列半導體應用和設備的産量。

 

半導體故障分析
越來越複雜的半導體器(qì)件結構導緻更多隐藏故障引起農空的缺陷的位置。我們(men)的新一代工(gōng)作流程可幫助您定村林位和表征影響量産、性能和可靠性的細微的電子(zǐ)問題。

 

物理和化學表征

持續的消費者需求推動了創建更小(xiǎo湖黃)型、更快和更便宜的電子(zǐ)設備。它們(men)的生産依賴高效的儀器(呢工qì)和工(gōng)作流程,可對多種半導體和顯示設備進行成像、也你分析和表征。